Lézerrel kezelt szilícium felületek, valamint impulzuslézeres rétegépítéssel előállított amorf szilícium és SixC vékonyrétegek ellipszometriai vizsgálata
Elmentve itt :
| Szerző: | Hanyecz István |
|---|---|
| További közreműködők: | Tóth Zsolt (Témavezető) |
| Dokumentumtípus: | Disszertáció |
| Megjelent: |
2015-05-07
|
| Tárgyszavak: | |
| doi: | 10.14232/phd.2267 |
| mtmt: | 2994696 |
| Online Access: | http://doktori.ek.szte.hu/2267 |
Hasonló tételek
-
Lézerrel kezelt szilícium felületek vizsgálata mikroszkópiai és spektroszkópiai ellipszometriai mérésekkel
Szerző: Gárdián Anett Zsuzsanna
Megjelent: (2013) -
Hidrogénezett amorf szénrétegek előállítása impulzuslézeres rétegépítéssel és ellipszometriai vizsgálatuk
Szerző: Budai Judit
Megjelent: (2008) -
Impulzuslézerekkel módosított szén és szilícium felületek vizsgálata Raman-spektroszkópiával és ellipszometriai módszerekkel
Szerző: Csontos János
Megjelent: (2019) -
Szilícium felületek lézeres kezelésének vizsgálata spektroszkópiai ellipszometriával
Szerző: Turóczi Zsolt Albin
Megjelent: (2018) -
Szerves vékonyrétegek impulzuslézeres leválasztása
Szerző: Kecskeméti Gabriella
Megjelent: (2009)