Atomic force microscopic characterization of films grown by inverse pulsed laser deposition
Elmentve itt :
| Szerzők: |
Égerházi László Geretovszky Zsolt Csákó Tamás Szörényi Tamás |
|---|---|
| Dokumentumtípus: | Cikk |
| Megjelent: |
2006
|
| Sorozat: | APPLIED SURFACE SCIENCE
252 |
| doi: | 10.1016/j.apsusc.2005.07.083 |
| mtmt: | 155801 |
| Online Access: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18152 |
Hasonló tételek
-
Thickness distribution of carbon nitride films grown by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2005) -
Homogeneous films by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2011) -
Inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2008) -
On the orientation independence of inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2006) -
A point source analytical model of inverse pulsed laser deposition
Szerző: Morozov Alexey A., et al.
Megjelent: (2008)