Determination of the thickness and the refractive index of V2O5 thin films from reflectance interference spectra
Elmentve itt :
| Szerzők: | |
|---|---|
| Dokumentumtípus: | Cikk |
| Megjelent: |
1979
|
| Sorozat: | Acta physica et chemica
25 No. 1-2 |
| Kulcsszavak: | Természettudomány, Kémia, Fizika |
| Online Access: | http://acta.bibl.u-szeged.hu/24114 |
| Terjedelem/Fizikai jellemzők: | 29-41 |
|---|---|
| ISSN: | 0001-6721 |